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「新版Ｘ線反射率法入門」（桜井健次編、講談社 2018年）　サイン入り

¥6,930 税込

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Ｘ線反射率法は、薄膜・多層膜の深さ方向の内部構造、具体的には、各層の膜厚、密度、各界面のラフネス等を非破壊的に解析できる解析技術です。わが国を代表する専門家が結集して初の専門的入門書を出版しました。ご希望に応じ、編著者（桜井健次）のサイン入りでお送りできます。

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